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Sistemi Raman combinati/ibridi

Per accrescere le potenzialità analitiche del sistema inVia è possibile abbinarlo ad altri sistemi di analisi di altri produttori.

I campioni possono essere analizzati con due o più tecniche senza doverli trasferire da uno strumento all'altro, in modo da massimizzare l'efficienza e risparmiare tempo. Grazie ai sistemi di microscopia correlativa Renishaw si avrà sempre la certezza di analizzare lo stesso punto con entrambe le tecniche.

SPM/AFM: Risoluzione al nanometro

inVia può essere utilizzato in combinazione con un microscopio con sonda di scansione (SPM), come ad esempio i microscopi AFM a forza atomica, per investigare le proprietà chimiche e strutturali dei materiali. Raggiungi la risoluzione chimica nanometrica con il TERS e associa informazioni complementari come ad esempio le proprietà meccaniche.

SEM: immagini ad elevato ingrandimento e analisi degli elementi

Trasferisci le capacità di analisi Raman di inVia a un microscopio a scansione elettronica con la nostra interfaccia SEM-SCA Raman. Utilizza il microscopio a scansione elettronica (SEM) per acquisire immagini del campione ad alta risoluzione ed eseguire analisi degli elementi tramite i raggi X. Le potenzialità della tecnica Raman vanno a sommarsi per identificare materiali e composti non metallici, anche quando questi presentano uguale stechiometria.

Nanoindentazione: misura delle proprietà meccaniche

Le misure effettuate in loco consentono di mettere in correlazione diretta le proprietà meccaniche rilevate tramite indentazione e le analisi chimiche eseguite con la tecnologia Raman.

Per ulteriori informazioni, vedere la nostra pagina sulla nanoindentazione.

CLSM: immagini confocali

Per analizzare campioni con strutture 3D complesse, tipo cellule biologiche, puoi abbinare un microscopio confocale a scansione laser (CLSM) al sistema inVia e correlare le immagini a fluorescenza confocale con le immagini chimiche Raman.

Combinare per aumentare le potenzialità analitiche

La combinazione di tecniche diverse può fornire informazioni uniche e che altrimenti resterebbero nascoste. Per ulteriori informazioni su come accoppiare l’ inVia ad altri sistemi analitici, contattaci.

Leggi un articolo del Microscopy and Analysis Journal

Il seguente articolo è stato pubblicato nel mese di aprile 2015 e viene riprodotto per gentile concessione del Microscopy and Analysis Journal/Wiley.

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