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Combinazione di tecniche di imaging con il modulo Correlate™

Come ottenere il massimo dai microscopi

Correlate™ consente di confrontare i risultati Raman con molti sistemi di microscopia di uso comune, come i microscopi SEM (Scanning Electron Microscopy), fluorescenti, AFM (Atomic Force Microscopy), a infrarossi e ottici.

Panoramica delle caratteristiche

  • Gestione coordinate - Per importare e trasformare le coordinate dei più comuni sistemi di microscopia nel sistema Raman di Renishaw
  • Strumento di allineamento immagini - Con controllo della traslazione, della rotazione, del dimensionamento e delle proporzioni per sovrapposizioni con trasparenza variabile
  • Misure in batch - Per automatizzare la stessa misura Raman in corrispondenza di vari punti del campione
Comunicato stampa:  Comunicato stampa:  Comunicato stampa: Comunicato stampa: Immagini Raman e SEM correlate

Facile da utilizzare

È sufficiente registrare le coordinate di tre o più punti di riferimento e i punti di acquisizione dei dati del campione. Dopo averli trasferiti da un microscopio all'altro, il modulo Correlate ti porterà alla regione di interesse dei campioni. In questo modo, potrai ottenere i dati degli stessi punti e sovrapporre le immagini per un'interpretazione complementare.

Guarda l'immagine completa

Prova a spostare il cursore sull'immagine di un fiocco ReS2 per vedere l'immagine AFM correlata con una luce bianca, acquisita con un microscopio inViaTM. Combinando i dettagli topografici dell'immagine AFM e quelle di vari domini cristallini dall'immagine con luce bianca, potrai avere una migliore comprensione del campione in un'unica immagine.

Il modulo Correlate fa parte del software WiRE 5.3 di Renishaw e può essere utilizzato con il microscopio Raman confocale InVia, Virsa™ Raman Analyser e la serie RA800.

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