Interfaccia SEM-Raman inLux™
Una soluzione universale per svolgere analisi SEM-Raman direttamente in sede
L'innovativa interfaccia SEM-Raman inLux™ arricchisce le camere dei microscopi elettronici a scansione (SEM) con funzioni Raman di alta qualità. Ora è possibile raccogliere spettri Raman in grado di produrre immagini in 2D e 3D e di realizzare simultaneamente immagini in SEM. Fra le modalità di imaging SEM e raccolta dati Raman, il campione non si sposta, per consentire un posizionamento preciso durante la comparazione delle immagini Raman e SEM.
L'interfaccia inLux offre una gamma completa di funzionalità Raman. Si possono raccogliere spettri da punti singoli e multipli oppure generare immagini Raman confocali 2D e 3D. L'interfaccia inLux ha una dotazione standard completa e consente di analizzare volumi con dimensioni superiori a 0,5 mm su ciascun asse. Dispone inoltre di un controllo codificato della posizione, fino a 50 nm, che garantisce immagini Raman estremamente precise.
Vantaggi principali
- Ricchezza di informazioni - si possono eseguire simultaneamente analisi Raman, di fotoluminescenza (PL) e catodoluminescenza spettrale (CL) che possono essere poi posizionate in riferimento all'imaging SEM.
- Universale - L'interfaccia inLux può essere montata su una vasta gamma di SEM di varie marche, con camere di dimensioni diverse e senza modifiche SEM.
- Non invasivo - basta un semplice clic per fare arretrare la sonda inLux ed evitare che interferisca con altre funzioni o flussi di lavoro SEM, quando non viene utilizzata.
- Determinazione della distribuzione - Le immagini Raman confocali possono essere prodotte come standard semplificando le operazioni di misura dell'eterogeneità dei campioni.
- Visualizzazione dei campioni - Ampia area per l'imaging ottico e il montaggio. Consente di visualizzare il campione e focalizzare il dispositivo sulle aree di interesse.
- Configurabile - Fino a due lunghezze d'onda di eccitazione laser e un modulo CL facoltativo.
- Automatico - Possibilità di cambiare la lunghezza d'onda del laser con un semplice clic, per svolgere analisi Raman di campioni complessi.
Applicazioni dell'interfaccia inLux
Identificazione dei contaminanti
La spettroscopia Raman è una tecnica senza contatto e non distruttiva, in grado di fornire informazioni molto specifiche sulla composizione chimica. Questa caratteristica la rende utilissima per l'identificazione dei contaminanti. La spettroscopia Raman risulta particolarmente efficace quando si analizzano contaminanti a base di carbonio e organici che sarebbero difficili da identificare mediante l'analisi elementale. È possibile ricorrere a un microscopio SEM per individuare e studiare la morfologia di piccole particelle di contaminante che non possono essere analizzate con un microscopio ottico. Successivamente, il microscopio viene focalizzato direttamente sulle particelle, per svolgere un'analisi Raman con l'interfaccia inLux, senza bisogno di spostare il campione.
Analisi dei materiali
Molte nuove proprietà esibite dai materiali dipendono dalle loro dimensioni, dalla forma o dallo spessore. Grafene, nanobarre e nanotubi sono alcuni esempi di morfologie in cui l'elevata capacità di ingrandimento offerta dai microscopi a scansione elettronica risulta indispensabile per la visualizzazione dei campioni. Oltre a rivelare la natura chimica e strutturale del materiale, l'analisi Raman può fornire anche informazioni sulle proprietà fisiche. L'interfaccia inLux può produrre immagini Raman che mostrano la cristallinità, e le proprietà di tensione ed elettroniche che possono essere correlate a quelle raccolte con il microscopio SEM.
Connessione a diversi sistemi Raman di Renishaw
L'interfaccia inLux va utilizzata insieme agli spettrometri Raman professionali e al software sviluppati da Renishaw. In questo modo si ottiene un sistema intuitivo e facile da usare, che offre tuttavia una gamma completa di funzioni di elaborazione e analisi. Dall'identificazione dei contaminanti industriali alle ricerche di tipo accademico, l'interfaccia inLux aiuta a sfruttare al massimo le potenzialità dei microscopi SEM.
Analizzatore Raman Virsa™
L'interfaccia inLux può essere collegata a un analizzatore Raman Virsa per svolgere analisi Raman specifiche. Virsa è una soluzione su rack, compatta ed economica, per svolgere analisi Raman direttamente nel microscopio SEM e assicura un'elevata sensibilità e la risoluzione spettrale tipica di un sistema Raman di tipo professionale.
Maggiori informazioni sull'analizzatore Virsa
Microscopio Raman confocale inVia™
Connettere l'interfaccia inLux al microscopio Raman confocale inVia per potenziarlo ulteriormente con funzionalità di analisi SEM. InVia è il microscopio Raman da ricerca più venduto al mondo, assicura prestazioni eccezionali e una sensibilità straordinaria ed è disponibile con diverse opzioni per quanto riguarda lunghezze d'onda di eccitazione laser, rilevatori e reticoli. È ideale per l'analisi dei materiali Raman attivi. Il microscopio inVia può essere usato anche in modo indipendente, per le analisi Raman. In questo modo, il SEM rimane disponibile ad altri utenti, chi non hanno bisogno di effettuare misure in sede.
Maggiori informazioni sul microscopio Raman inViaScopri di più
Indica la configurazione del tuo microscopio elettronico a scansione per capire se sia compatibile con l'interfaccia SEM Raman inLux. Segui il link qui sotto per compilare un breve questionario e sarai contattato da un nostro esperto.
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Download: Interfaccia SEM-Raman inLux
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Brochure: inLux™ scanning electron microscope Raman interface [en]
The innovative inLux SEM Raman interface brings high-quality Raman functionality to your SEM chamber. Now you can collect Raman spectra that can produce images in 2D and 3D whilst simultaneously imaging in SEM.
Specifiche
| Parametri | Valore |
| Massa | < 20 kg |
| Lunghezza del cavo a fibre ottiche | 4,6 m |
| Spettrometri compatibili con Raman | Microscopio confocale Raman inVia e analizzatore Virsa di Renishaw |
| Modelli SEM compatibili | Compatibile con tutti i microscopi SEM dei principali produttori |
| Requisiti per le porte SEM | Richiede una porta libera del SEM (laterale o posteriore) |
| Prestazioni SEM | Per utilizzare l'interfaccia inLux non è necessario apportare alcuna modifica al SEM. Quando non viene usata, la sonda può essere ritratta completamente per evitare interferenze con le altre funzionalità del SEM o di altri accessori |
| Controllo del movimento | Trackpad, software WiRE |
| Protezione dai contatti | Sensore touch, volume di lavoro protetto e monitorato tramite encoder assoluti |
| Sicurezza laser | Laser vincolato al vuoto della camera |
| Mappatura/imaging Raman | Dotazione standard |
| Selezione del modulo a fibre ottiche | Fino a due diverse lunghezze d'onda di eccitazione + modulo opzionale di catodoluminescenza |
| Sono disponibili varie lunghezze d'onda di eccitazione laser | 405 nm, 532 nm, 660 nm, 785 nm (altre disponibili su richiesta) |
| Cambio laser | Automatico, motorizzato e controllato tramite software |
| Risoluzione spaziale laterale | < 1 µm @ 532 nm |
| Prestazioni confocali | < 6 µm @ 532 nm |
| Risoluzione spettrale | Vedere la scheda delle specifiche dello spettrometro |
| Dimensioni | L 804 mm x H 257 mm x P 215 mm |