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Microscopio Raman confocale inVia™ InSpect

Il nostro microscopio Raman confocale è particolarmente indicato per l'uso nei laboratori forensi, per la ricerca di tracce.

L'aggiunta della spettroscopia Raman dota il laboratorio di potenti strumenti a complemento delle tecniche già presenti: Svolge analisi senza contatto e non distruttive e permette di osservare in dettaglio i componenti chimici, mediante un microscopio ottico di tipo professionale.

Permette di identificare materiali che sarebbe difficile individuare con altre tecniche, come ad esempio polveri di cristalli duri, schegge di vetro o di ceramica. L'analisi risulta molto semplice e richiede una preparazione minima.

Contatti

Microscopio Raman inVia InSpect

Caratteristiche

Il microscopio Raman inVia InSpect offre:

  • Identificazione altamente specifica - la microscopia Raman consente di distinguere le varie strutture chimiche, anche quelle molto simili fra loro.
  • Elevata risoluzione spaziale - paragonabile ad altre tecniche microscopiche
  • Una serie di tecniche di microscopia a contrasto - fra cui campo chiaro, campo scuro e polarizzazione con illuminazione tramite luce riflessa e luce trasmessa
  • Analisi delle particelle - algoritmi avanzati di riconoscimento immagini e funzioni di controllo dello strumento per caratterizzare le distribuzioni di particelle
  • Imaging correlativo - creazione di immagini composite tramite la combinazione di dati Raman e immagini ottenute tramite altre tecniche di microscopia

Per informazioni dettagliate, scaricare la brochure di inVia InSpect.

Download

Immagine Raman di una pasticca di Ecstasy

Empty modelling™

Il software Empty Modelling sfrutta una tecnica di analisi multivariata per suddividere i dati complessi nei suoi elementi costituenti. Insieme alle ricerche di biblioteca, consente di analizzare i dati dei campioni contenenti sostanze sconosciute.

Lente dell'obiettivo del microscopio Raman inVia

Mappatura StreamHR™

La mappatura StreamHR armonizza il funzionamento del rilevatore ad alte prestazioni dei microscopi InSpect e della base MS30. Aumenta la velocità di raccolta dati e permette di generare immagini in poco tempo.

Microscopio Raman inVia InSpect

Completa automazione

Il software WiRE di Renishaw permette di controllare l'allineamento, la calibrazione e le configurazioni. Ad esempio, con il semplice clic di un pulsante è possibile passare dalla visualizzazione del campione all'analisi Raman.

Applicazioni

Raccolta di campioni di prove relative a residui di sparo

Residui di sparo

Il microscopio Raman inVia InSpect è dotato di un pacchetto completo per l'analisi dei residui di sparo di qualsiasi origine che agevola il rilevamento e l'identificazione di residui organici e inorganici. In questa nota, vengono esposte alcune delle caratteristiche e dei vantaggi principali della tecnica Raman per l'analisi dei residui di sparo.

Scarica la nota applicativa

Analisi dell'inchiostro per identificare documenti contraffatti

Falsificazione di documenti

Esistono molti tipi di inchiostro e anche se il colore può essere identico, le loro caratteristiche chimiche sono diverse. L'analisi Raman eseguita con i microscopi inVia permette di svolgere test rapidi e non distruttivi delle aree sospette e assicura il livello di specificità necessario per distinguere tipi di inchiostro che a prima vista potrebbero apparire identici.

Leggi l'articolo

Mantenere il fuoco in tempo reale
con LiveTrack

Il microscopio inVia InSpect si avvale della tecnologia di tracciamento automatico del fuoco LiveTrack™ per acquisire in tempo reale topografie e spettri accurati e ripetibili da campioni con altezze molto diverse. Crea straordinarie immagini 3D di superfici irregolari, curve o grezze, senza richiedere alcuna prescansione. Guarda l'esempio nel video.

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Download: Microscopio Raman inVia InSpect

Specifiche

Parametro

Valore
Intervallo delle lunghezze d'ondada 200 a 2200 nm
Laser supportatida 229 a 1064 nm
Risoluzione spettrale0,3 cm-1 (FWHM)
Valore massimo solitamente necessario: 1 cm-1
Stabilità< ±0,01 cm-1Variazione nella frequenza centrale della banda Si 520 cm-1 adattata alla curva, dopo misure ripetute. Ottenuta con una risoluzione spettrale di 1 cm-1 o superiore
Taglio basso del numero d'onda5 cm-1Valore minimo solitamente necessario: 100 cm-1
Taglio alto del numero d'onda30.000 cm-1Standard: 4.000 cm-1
Risoluzione spaziale (laterale)0,25 µmStandard: 1 µm
Risoluzione spaziale (assiale)< 1 µmStandard: < 2 µm. In base all'obiettivo e al laser
Dimensioni del rilevatore (standard)1024 × 256 pixelAltre opzioni disponibili
Temperatura funzionale del rilevatore-70 °C
Supporta i filtri RayleighSenza limitiFino a quattro filtri impostati nel supporto automatico. Numero illimitato di set di filtri aggiuntivi supportato tramite supporti cinematici intercambiabili e a posizionamento accurato
Numero di laser supportatiSenza limitiUno come standard. Per aggiungere altri laser oltre i 4 standard, è necessario installare un supporto su una tavola ottica
Controllo tramite PC WindowsPC Windows® con le specifiche più recentiInclude workstation, monitor, tastiera e trackball
Tensione di alimentazioneda 110 a 240 Vca +10% -15%
Frequenza di alimentazione50 Hz o 60 Hz
Consumo energetico tipico (spettrometro)150 W
Profondità (sistemi a doppio laser)930 mmBase per due laser
Profondità (sistemi a triplo laser)1116 mmBase per tre laser
Profondità (sistemi compatti)610 mmFino a tre laser (in base al tipo)
Massa tipica (esclusi i laser)90 kg