Microscopio Raman confocale inVia™ InSpect
Il nostro microscopio Raman confocale è particolarmente indicato per l'uso nei laboratori forensi, per la ricerca di tracce.
Permette di identificare materiali che sarebbe difficile individuare con altre tecniche, come ad esempio polveri di cristalli duri, schegge di vetro o di ceramica. L'analisi risulta molto semplice e richiede una preparazione minima.
Caratteristiche
Il microscopio Raman inVia InSpect offre:
- Identificazione altamente specifica - la microscopia Raman consente di distinguere le varie strutture chimiche, anche quelle molto simili fra loro.
- Elevata risoluzione spaziale - paragonabile ad altre tecniche microscopiche
- Una serie di tecniche di microscopia a contrasto - fra cui campo chiaro, campo scuro e polarizzazione con illuminazione tramite luce riflessa e luce trasmessa
- Analisi delle particelle - algoritmi avanzati di riconoscimento immagini e funzioni di controllo dello strumento per caratterizzare le distribuzioni di particelle
- Imaging correlativo - creazione di immagini composite tramite la combinazione di dati Raman e immagini ottenute tramite altre tecniche di microscopia
Per informazioni dettagliate, scaricare la brochure di inVia InSpect.
Empty modelling™
Il software Empty Modelling sfrutta una tecnica di analisi multivariata per suddividere i dati complessi nei suoi elementi costituenti. Insieme alle ricerche di biblioteca, consente di analizzare i dati dei campioni contenenti sostanze sconosciute.
Mappatura StreamHR™
La mappatura StreamHR armonizza il funzionamento del rilevatore ad alte prestazioni dei microscopi InSpect e della base MS30. Aumenta la velocità di raccolta dati e permette di generare immagini in poco tempo.
Completa automazione
Il software WiRE di Renishaw permette di controllare l'allineamento, la calibrazione e le configurazioni. Ad esempio, con il semplice clic di un pulsante è possibile passare dalla visualizzazione del campione all'analisi Raman.
Applicazioni
Residui di sparo
Il microscopio Raman inVia InSpect è dotato di un pacchetto completo per l'analisi dei residui di sparo di qualsiasi origine che agevola il rilevamento e l'identificazione di residui organici e inorganici. In questa nota, vengono esposte alcune delle caratteristiche e dei vantaggi principali della tecnica Raman per l'analisi dei residui di sparo.
Falsificazione di documenti
Esistono molti tipi di inchiostro e anche se il colore può essere identico, le loro caratteristiche chimiche sono diverse. L'analisi Raman eseguita con i microscopi inVia permette di svolgere test rapidi e non distruttivi delle aree sospette e assicura il livello di specificità necessario per distinguere tipi di inchiostro che a prima vista potrebbero apparire identici.
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Download: Microscopio Raman inVia InSpect
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Brochure: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The perfect addition for trace analysis in your forensic laboratory.
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Application note: GSR analysis with inVia InSpect [en]
Using Raman spectroscopy to analyse gunshot residue, an important class of trace evidence, relevant to investigations involving the alleged use of a firearm.
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Analysing paint samples with the inVia InSpect Raman microscope [en]
This application note explores some of the key features that make Raman spectroscopy so powerful for paint analysis, as part of the forensic microscopist’s trace analysis suite.
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Data sheet: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The Renishaw inVia InSpect confocal Raman microscope has been optimised for use in forensic laboratories for trace analysis.
Specifiche
Parametro | Valore | |
| Intervallo delle lunghezze d'onda | da 200 a 2200 nm | |
| Laser supportati | da 229 a 1064 nm | |
| Risoluzione spettrale | 0,3 cm-1 (FWHM) | Valore massimo solitamente necessario: 1 cm-1 |
| Stabilità | < ±0,01 cm-1 | Variazione nella frequenza centrale della banda Si 520 cm-1 adattata alla curva, dopo misure ripetute. Ottenuta con una risoluzione spettrale di 1 cm-1 o superiore |
| Taglio basso del numero d'onda | 5 cm-1 | Valore minimo solitamente necessario: 100 cm-1 |
| Taglio alto del numero d'onda | 30.000 cm-1 | Standard: 4.000 cm-1 |
| Risoluzione spaziale (laterale) | 0,25 µm | Standard: 1 µm |
| Risoluzione spaziale (assiale) | < 1 µm | Standard: < 2 µm. In base all'obiettivo e al laser |
| Dimensioni del rilevatore (standard) | 1024 × 256 pixel | Altre opzioni disponibili |
| Temperatura funzionale del rilevatore | -70 °C | |
| Supporta i filtri Rayleigh | Senza limiti | Fino a quattro filtri impostati nel supporto automatico. Numero illimitato di set di filtri aggiuntivi supportato tramite supporti cinematici intercambiabili e a posizionamento accurato |
| Numero di laser supportati | Senza limiti | Uno come standard. Per aggiungere altri laser oltre i 4 standard, è necessario installare un supporto su una tavola ottica |
| Controllo tramite PC Windows | PC Windows® con le specifiche più recenti | Include workstation, monitor, tastiera e trackball |
| Tensione di alimentazione | da 110 a 240 Vca +10% -15% | |
| Frequenza di alimentazione | 50 Hz o 60 Hz | |
| Consumo energetico tipico (spettrometro) | 150 W | |
| Profondità (sistemi a doppio laser) | 930 mm | Base per due laser |
| Profondità (sistemi a triplo laser) | 1116 mm | Base per tre laser |
| Profondità (sistemi compatti) | 610 mm | Fino a tre laser (in base al tipo) |
| Massa tipica (esclusi i laser) | 90 kg |