Sistemi Raman ibridi
Per accrescere le capacità del microscopio Raman è possibile abbinarlo ad altri sistemi di analisi di altri produttori.
Grazie ai sistemi di microscopia correlativa Renishaw si avrà sempre la certezza di analizzare lo stesso punto con entrambe le tecniche.
Contatti
SPM/AFM: Risoluzione al nanometro
Il microscopio Raman inVia™ può essere utilizzato in combinazione con un microscopio con sonda di scansione (SPM), come ad esempio i microscopi AFM a forza atomica, per investigare le proprietà chimiche e strutturali dei materiali. Raggiungi la risoluzione chimica nanometrica con il TERS (tip-enhanced Raman spectroscopy) e associa informazioni complementari come ad esempio le proprietà meccaniche.
Nanoindentazione: misura delle proprietà meccaniche
Combina la potenza del microscopio Raman inVia e l'accuratezza delle misure tramite nanoindentazione per eseguire correlazioni dirette fra le proprietà meccaniche e tribologiche, con informazioni sulla struttura chimica, come ad esempio cristallinità, polimorfismo, fase, compressione e tensione.
Leggi un articolo del Microscopy and Analysis Journal
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Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]
A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.
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